電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準（二）
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進(jìn)行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。范圍 70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法振動(dòng)試驗》進(jìn)行振動(dòng)試驗。
頻率范圍（機械振動(dòng)臺） 5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），位移振幅3.5mm（滿(mǎn)載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺） 5～3000Hz，位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法沖擊試驗》進(jìn)行沖擊試驗。沖擊加速度范圍 （50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法碰撞試驗》進(jìn)行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法自由跌落試驗》進(jìn)行跌落試驗。
擴展資料
同一種產(chǎn)品，在不同的階段，測試條件也不一樣；一般而言，產(chǎn)品會(huì )經(jīng)過(guò)研發(fā)、小批量試產(chǎn)、批量生產(chǎn)三個(gè)不同的階段。
1、研發(fā)階段，測試條件嚴（應力大）、測試延續的時(shí)候短；
2、小批量試產(chǎn)階段，測試應力適中、測試時(shí)間適中；
3、批量生產(chǎn)階段，測試應力小、測試時(shí)間較短。
